哈爾濱工程質量檢測——無損(sun)(sun)檢(jian)測NDT （Non-destructive testing）是(shi)工(gong)業發(fa)展必不(bu)可少的有效(xiao)工(gong)具，在一定(ding)程度上反映(ying)了一個國家的工(gong)業發(fa)展水平(ping)，其重要(yao)性(xing)已得到(dao)公認。無損(sun)(sun)檢(jian)測NDT （Non-destructive testing），就是(shi)利用(yong)聲、光、磁和電等(deng)特性(xing)，在不(bu)損(sun)(sun)害或(huo)不(bu)影響被檢(jian)對(dui)象(xiang)使用(yong)性(xing)能的前提(ti)下，檢(jian)測被檢(jian)對(dui)象(xiang)中是(shi)否(fou)存(cun)在缺陷或(huo)不(bu)均勻性(xing)，給出缺陷的大小、位(wei)置、性(xing)質和數量等(deng)信(xin)息，進而判定(ding)被檢(jian)對(dui)象(xiang)所(suo)處技術(shu)(shu)狀(zhuang)態（如合格與否(fou)、剩余壽命(ming)等(deng)）的所(suo)有技術(shu)(shu)手段的總稱。

根據受檢制(zhi)件(jian)的材質、結構 、制(zhi)造方(fang)法、工作(zuo)介質、使用條件(jian)和(he)失效模式，預計可(ke)能產生的缺陷種類、形狀、部位、和(he)方(fang)向，選擇適宜的無損檢測方(fang)法。

常規無損檢測方法(fa)有：

超聲檢測Ultrasonic Testing（縮寫 UT）；

射線檢(jian)測(ce) Radiographic Testing（縮(suo)寫 RT）；

磁粉檢測 Magnetic particle Testing（縮寫 MT）；

滲(shen)透檢驗 Penetrant Testing （縮寫 PT）；

TOFD檢測(ce)（縮寫(xie)TOFD）

射線(xian)和(he)超聲檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)主(zhu)要(yao)用(yong)(yong)于(yu)內部缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)；磁(ci)粉(fen)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)主(zhu)要(yao)用(yong)(yong)于(yu)鐵磁(ci)體材料(liao)制件(jian)的(de)(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)和(he)近(jin)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)；滲透檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)主(zhu)要(yao)用(yong)(yong)于(yu)非(fei)多(duo)孔性金(jin)屬(shu)材料(liao)和(he)非(fei)金(jin)屬(shu)材料(liao)制件(jian)的(de)(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)開口缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)；鐵磁(ci)性材料(liao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)時，宜采(cai)用(yong)(yong)磁(ci)粉(fen)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)。渦流檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)主(zhu)要(yao)用(yong)(yong)于(yu)導電(dian)金(jin)屬(shu)材料(liao)制件(jian)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)和(he)近(jin)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)。

當采(cai)用兩(liang)(liang)種(zhong)或兩(liang)(liang)種(zhong)以上的檢(jian)(jian)測(ce)(ce)方法(fa)對構(gou)件的 同(tong)(tong)一部位(wei)進行檢(jian)(jian)測(ce)(ce)時(shi)，應(ying)按各自的方法(fa)評定級別(bie)；采(cai)用同(tong)(tong)種(zhong)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)方法(fa)按不(bu)同(tong)(tong)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)工藝進行檢(jian)(jian)測(ce)(ce)時(shi)，如(ru)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)結果不(bu)一致(zhi)，應(ying)危(wei)險大(da)的評定級別(bie)為(wei)準。

（1） 射線檢測

射(she)線(xian)(xian)檢測就是利用(yong)射(she)線(xian)(xian)（X射(she)線(xian)(xian)、γ射(she)線(xian)(xian)、中子射(she)線(xian)(xian)等）穿過材料或工(gong)件(jian)時的(de)強度(du)衰減，檢測其內部(bu)結構不(bu)連(lian)續性的(de)技術。穿過材料或工(gong)件(jian)時的(de)射(she)線(xian)(xian)由(you)于(yu)強度(du)不(bu)同(tong)，在(zai)感光膠(jiao)片(pian)上的(de)感光程(cheng)度(du)也不(bu)同(tong)，由(you)此生(sheng)成(cheng)內部(bu)不(bu)連(lian)續的(de)圖(tu)像。

射(she)線檢(jian)測(ce)主要(yao)應(ying)用于(yu)金(jin)屬(shu)、非(fei)金(jin)屬(shu)及(ji)其工件的內(nei)部缺陷(xian)(xian)的檢(jian)測(ce)，檢(jian)測(ce)結果準確度高、可(ke)(ke)靠(kao)性(xing)好。膠片可(ke)(ke)長期保存，可(ke)(ke)追(zhui)溯性(xing)好，易(yi)于(yu)判定缺陷(xian)(xian)的性(xing)質及(ji)所處的平面位置。

射(she)線檢測也有其不足之處，難于判定缺陷(xian)在材(cai)料、工(gong)件內部的埋藏深(shen)度(du)；對于垂(chui)直(zhi)于材(cai)料、工(gong)件表面的線性(xing)缺陷(xian)（如：垂(chui)直(zhi)裂紋、穿透(tou)性(xing)氣孔等）易(yi)漏判或誤判；同時射(she)線檢測需嚴密(mi)保護措施，以防射(she)線對人體造成傷害；檢測設備(bei)復(fu)雜，成本(ben)高(gao)。

射線檢測只適用于(yu)材料、工件的平面檢測，對(dui)于(yu)異型件及T型焊縫、角焊縫等檢測就(jiu)無能為力了。

（2） 超聲波檢測

超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)檢測就(jiu)是利(li)用超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)在(zai)金(jin)屬(shu)、非金(jin)屬(shu)材(cai)(cai)料(liao)及其工件(jian)中傳(chuan)播時，材(cai)(cai)料(liao)（工件(jian)）的(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)學特(te)性和(he)內部(bu)組織的(de)(de)(de)變化(hua)對超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)傳(chuan)播產(chan)生一定的(de)(de)(de)影響，通過對超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)受影響程度和(he)狀況的(de)(de)(de)探(tan)測了解材(cai)(cai)料(liao)（工件(jian)）性能和(he)結構變化(hua)的(de)(de)(de)技術。

超聲(sheng)(sheng)波(bo)檢測和射線檢測一樣，主要用于檢測材(cai)料(liao)（工(gong)件）的(de)內部缺(que)(que)陷。檢測靈敏度(du)高、操作方便、檢測速度(du)快(kuai)、成本低且對人體無(wu)傷害，但超聲(sheng)(sheng)波(bo)檢測無(wu)法判定缺(que)(que)陷的(de)性質；檢測結(jie)果(guo)無(wu)原始記(ji)錄，可追溯(su)性差。

超聲波(bo)檢(jian)測(ce)同樣也具有著射線(xian)檢(jian)測(ce)無法(fa)比擬(ni)的(de)(de)優勢，它可(ke)對異型構(gou)件(jian)、角焊縫、T型焊縫等復(fu)雜構(gou)件(jian)的(de)(de)檢(jian)測(ce)；同時，也可(ke)檢(jian)測(ce)出缺陷在(zai)材料（工(gong)件(jian)）中的(de)(de)埋藏(zang)深度。

（3） 磁粉檢測

磁粉檢(jian)(jian)測是利(li)用(yong)漏磁和(he)(he)合(he)適的檢(jian)(jian)測介(jie)質發現材料（工件）表面和(he)(he)近表面的不連續性(xing)的。

磁(ci)粉檢(jian)測(ce)作為表面檢(jian)測(ce)具有操作靈活、成(cheng)本低的特點，但磁(ci)粉檢(jian)測(ce)只能應用于鐵磁(ci)性(xing)材料、工(gong)件（碳鋼(gang)、普通合金鋼(gang)等）的表面或近表面缺(que)陷的檢(jian)測(ce)，對(dui)于非磁(ci)性(xing)材料、工(gong)件（如：不(bu)銹鋼(gang)、銅等）的缺(que)陷就(jiu)無(wu)法檢(jian)測(ce)。

磁粉檢(jian)測(ce)和超聲(sheng)波檢(jian)測(ce)一樣(yang)，檢(jian)測(ce)結果無原(yuan)始記(ji)錄，可追溯性(xing)差，無法(fa)檢(jian)測(ce)到材料(liao)、工(gong)件深度缺(que)陷，但不受材料(liao)、工(gong)件形狀(zhuang)的限制。

（4） 滲透檢驗

滲透檢(jian)驗就(jiu)是利用(yong)液體的(de)(de)毛細管作用(yong)，將滲透液滲入(ru)固體材料、工件表(biao)面(mian)開口(kou)缺(que)陷(xian)處，再通(tong)過顯(xian)像劑滲入(ru)的(de)(de)滲透液吸出(chu)到(dao)表(biao)面(mian)顯(xian)示缺(que)陷(xian)的(de)(de)存(cun)在的(de)(de)檢(jian)測方(fang)法。

滲透檢(jian)(jian)驗(yan)操作簡單、成本很低，檢(jian)(jian)驗(yan)過程耗時較長(chang)，只能檢(jian)(jian)測到材料、工件的(de)穿透性、表面開口缺陷，對僅存于內部的(de)缺陷就(jiu)無法檢(jian)(jian)測。

（5） TOFD檢測

TOFD 原理是當(dang)超(chao)聲(sheng)波(bo)遇到諸如裂(lie)(lie)紋(wen)等(deng)的(de)(de)缺(que)陷時(shi)，將在(zai)缺(que)陷尖(jian)端發生疊加到正(zheng)(zheng)常(chang)(chang)反射(she)波(bo)上的(de)(de) 衍射(she)波(bo)，探頭探測到衍射(she)波(bo)，可以(yi)判定缺(que)陷的(de)(de)大小和深度。當(dang)超(chao)聲(sheng)波(bo)在(zai)存在(zai)缺(que)陷的(de)(de)線性不(bu)連續處(chu)，如裂(lie)(lie)紋(wen)等(deng)處(chu)出現傳播障礙時(shi)，在(zai)裂(lie)(lie)紋(wen)端點處(chu)除了正(zheng)(zheng)常(chang)(chang)反射(she) 波(bo)以(yi)外，還要發生衍射(she)現象。衍射(she)能(neng)量(liang)在(zai)很大的(de)(de)角度范圍(wei)內(nei)放射(she)出并且(qie)假(jia)定此(ci)能(neng)量(liang)起源(yuan)于裂(lie)(lie)紋(wen)末端。這與依賴于間斷(duan)反射(she)能(neng)量(liang)總和的(de)(de)常(chang)(chang)規超(chao)聲(sheng)波(bo)形成一個顯著(zhu)的(de)(de)對(dui)比。

根據TOFD的(de)理論和特點(dian),在(zai)檢(jian)測后壁容(rong)器方(fang)面具有(you)(you)巨(ju)大的(de)優勢,在(zai)國內使用(yong)的(de)初期階段要充分發(fa)揮其(qi)(qi)有(you)(you)點(dian),使用(yong)其(qi)(qi)他技術(shu)彌補其(qi)(qi)缺點(dian),讓TOFD技術(shu)更快的(de)應(ying)用(yong)到檢(jian)測中。(超聲波(bo)檢(jian)測的(de)一(yi)種，無損檢(jian)測研究部新(xin)發(fa)展(zhan)的(de)檢(jian)測方(fang)向)